電子元器件是元件和器件的總稱。常用電子元器件：電阻、電容、二極管、三極管、變壓器、繼電器、壓敏、液晶、連接器、可控硅、輕觸開關、蜂鳴器、各種傳感器、接插件、電機、天線等等。

1、機械沖擊：確定光電子器件是否能適用于在需經受中等嚴酷程序沖擊的電子設備中，沖擊可能是裝卸、運輸或現場使用過程中突然受力或劇烈振動所產生的。

2、變頻振動測試：確定在規(guī)范頻率范圍內振動對光電子器各部件的影響。

3、熱沖擊測試：確定光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產生的作用。

4、插拔耐久性測試：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數是否滿足重復性要求。

5、存儲試驗：確定光電子器件能否經受高溫和低溫下運輸和儲存。

6、溫度循環(huán)測試：確定光電子器件承受極高溫和極低溫的能力，以及極高溫和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。

7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。

8、高溫壽命測試：確定光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命。

加速老化試驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依據試驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進行調整和對可靠性進行計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基本環(huán)境應力式高溫。在實驗過程中，應定斯監(jiān)測選定的參數，直到退化超過壽命終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應規(guī)定恒溫試驗樣品數量和允許失效數。

3、變溫試驗：變化濕度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度

加速老化試驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依據試驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進行調整和對可靠性進行計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基本環(huán)境應力式高溫。在實驗過程中，應定斯監(jiān)測選定的參數，直到退化超過壽命終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應規(guī)定恒溫試驗樣品數量和允許失效數。

3、變溫試驗：變化濕度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度

一、 設備用途:

    微電腦插拔力試驗機適用于各類連接器（件）、插頭插座等產品作插入、拔出之疲勞壽命測試；

電動插拔力試驗機采用臺灣AC調速電機為動力源，質量可靠，耐久使用；配以專用對心夾持夾具對連接件（器）作插拔測試，由于采用導程銅套降低了機械摩擦及噪聲；

電動插拔力試驗機可選配微型印表機打印插入力與拔出力，且打印間隔可以設定，自動計算最大力、最小力、平均力。

二、設備參數: